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cristalinos y la espectroscop%u00eda de fotoelectrones emitidos por rayos X (XPS)herramienta para determinar la composici%u00f3n elemental y los estadosqu%u00edmicos de los elementos en la superficie de los nanomateriales.Existe un grupo de t%u00e9cnicas que se engloban bajo el nombre deMicroscop%u00eda de Sonda de Barrido (SPM del ingl%u00e9s Scanning Probe Microscopy)que incluye herramientas como la microscop%u00eda de fuerza at%u00f3mica (AFM) yla de efecto t%u00fanel (STM) (13). Estas t%u00e9cnicas han sido fundamentales parael desarrollo de la nanociencia y la nanotecnolog%u00eda. El Microscopio de efectot%u00fanel fue desarrollado en los a%u00f1os 80 del siglo XX en los laboratorios de IBMen Zurich por Binnig y Rohrer (14). Esta herramienta permite visualizar los%u00e1tomos de la superficie e incluso manipular la materia a escala at%u00f3mica.Las potentes im%u00e1genes producidas por este microscopio abren la puerta aconocer el comportamiento de la materia a una escala nunca antesimaginada. El STM utiliza la corriente de efecto t%u00fanel entre la punta y lamuestra para estudiar la morfolog%u00eda de la superficie y su estructuraelectr%u00f3nica con resoluci%u00f3n at%u00f3mica. El AFM, desarrollado en el mismo centropor Binnig, Quate y Gerber (15) unos a%u00f1os m%u00e1s tarde, se basa en lainteracci%u00f3n entre la superficie de la muestra y una punta afilada que barrela superficie. Las fuerzas ejercidas entre punta y muestra var%u00edant%u00edpicamente entre 10-9 y 10-11 N y para detectarlas se utiliza un sistema%u00f3ptico donde la punta es colocada en el extremo de una micropalanca (verFigura 4). La micropalanca se deflecta debido a la interacci%u00f3n puntamuestra y esa deflexi%u00f3n se mide haciendo incidir un l%u00e1ser en el extremo dela palanca y recogiendo la se%u00f1al con un fotodiodo. El AFM utiliza una sonda53 Nanomaterial y NanomedicinaMar%u00eda Vallet , Antonio J. Salinasfigura 4. esquemas de dos de las t%u00e9cnicas conocidas como microscop%u00eda de sonda de barrido: elmicroscopio de efecto t%u00fanel (sTm) y el microscopio de fuerzas (Afm)